KEMIJSKA I OPTIČKA ISPITIVANJA MATERIJALA (metali, keramike, polimeri)
METRIS-ovi laboratoriji (kemijski odjel) opremljeni su uređajima za ispitivanje kemijskih svojstava metalnih materijala. Kemijski sastav metala ispituje se akreditiranim metodama uz pomoć optičkog emisijskog spektrometra GDS LECO500A te s pretražnim elektronskim mikroskopom SEM FEI FEG250QUANTA / OXFORD EDS PENTAFET. Pored kemijskih ispitivanja svojstava metala, u laboratorijima se provodi i metalografska analiza mikrostrukture metalnih materijala te analiza lomnih površina pomoću pretražnog elektronskog mikroskopa i svjetlosnog mikroskopa. Za ispitivanja se uzorci pripremaju preciznim rezanjem, brušenjem, poliranjem, nagrizanjem te naparivanjem ovisno o metodi analize za koju su predviđeni. Oprema dostupna u METRIS-u omogućuje ispitivanje kemijskih svojstava raznih materijala, primjerice polimera, keramika i nanokompozita.
DOSTUPNE METODE KEMIJSKIH I OPTIČKIH ANALIZA
SEM
Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja (FE-SEM, Field Emission Scanning Electron Microscope) je iznimno sofisticirani uređaj namijenjen uvidu u strukturu površine materijala sve do nanometarske razine, uz uvećanje od milijun puta.
FE-SEM mikroskop opremljen je sljedećim detektorima:
Primjena FE-SEM mikroskopa obuhvaća uz ostalo:
METRIS-ovi laboratoriji (kemijski odjel) opremljeni su uređajima za ispitivanje kemijskih svojstava metalnih materijala. Kemijski sastav metala ispituje se akreditiranim metodama uz pomoć optičkog emisijskog spektrometra GDS LECO500A te s pretražnim elektronskim mikroskopom SEM FEI FEG250QUANTA / OXFORD EDS PENTAFET. Pored kemijskih ispitivanja svojstava metala, u laboratorijima se provodi i metalografska analiza mikrostrukture metalnih materijala te analiza lomnih površina pomoću pretražnog elektronskog mikroskopa i svjetlosnog mikroskopa. Za ispitivanja se uzorci pripremaju preciznim rezanjem, brušenjem, poliranjem, nagrizanjem te naparivanjem ovisno o metodi analize za koju su predviđeni. Oprema dostupna u METRIS-u omogućuje ispitivanje kemijskih svojstava raznih materijala, primjerice polimera, keramika i nanokompozita.
DOSTUPNE METODE KEMIJSKIH I OPTIČKIH ANALIZA
- Metalografska analiza i analiza svjetlosnim mikroskopom (analiza svjetlosnim metalografskim mikroskopom)
- GDS analiza (određivanje kemijskog sastava metala i legura optičkim emisijskim spektrometrom – akreditirana metoda)
- SEM analiza metala (analiza površine metala pretražnim elektronskim mikroskopom – akreditirana metoda)
- SEM analiza nemetala (analiza površine nevodljivih materijala pretražnim elektronskim mikroskopom –akreditirana metoda)
- EDS analiza (mikroanaliza kemijskog sastava metala pomoću pretražnog elektronskog mikroskopa – akreditirana metoda)
- SEM nano analiza (analiza površine materijala u nano-području rada – akreditirana metoda)
- ESEM analiza biološkog materijala (analiza površine bioloških i drugih nevodljivih te naprednih materijala pretražnim elektronskim mikroskopom – akreditirana metoda)
- Ionska kromatografija (određivanje koncentracije iona topivih soli, u suradnji s vanjskim laboratorijem)
- FT-IR spektroskopija (analiza kemijskog sastava pomoću IR spektroskopije izradom KBr pastile)
- FT-IR mikroanaliza kemijskog sastava pomoću FT-IR mikroskopa (za organske i anorganske materijale)
- Termogravimetrijska analiza TGA (u suradnji s vanjskim laboratorijem)
- XRD analiza (analiza minerala difrakcijom X zraka, u suradnji s vanjskim laboratorijem)
SEM
Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja (FE-SEM, Field Emission Scanning Electron Microscope) je iznimno sofisticirani uređaj namijenjen uvidu u strukturu površine materijala sve do nanometarske razine, uz uvećanje od milijun puta.
FE-SEM mikroskop opremljen je sljedećim detektorima:
- detektor sekundarnih elektrona za topografsku analizu površine uzorka,
- detektor povratno raspršenih elektrona za prikaz kontrasta između područja s različitim kemijskim sastavom,
- detektor x-zraka za kvalitativnu i kvantitativnu kemijsku analizu uzoraka.
Primjena FE-SEM mikroskopa obuhvaća uz ostalo:
- istraživanje površine nanostrukturnih i drugih materijala,
- analizu veličine i rasporeda čestica i homogenosti materijala,
- mjerenje hrapavosti površine materijala,
- analiza mehaničkog oštećenja i zamora materijala,
- analiza kontaminacije materijala,
- istraživanja u biomedicini i farmaceutici,
- istraživanja na organskim materijalima,
- istraživanja geoloških, mineralnih, kristaliničnih, arheoloških i drugih uzoraka.
Ova web stranica koristi kolačiće i slične tehnologije kako bi vam pružila najbolje korisničko iskustvo, uključujući personalizaciju oglašavanja i sadržaja. Postavke kolačića možete podesiti u svojem web pregledniku. Klikom na 'Prihvaćam', pristajete na korištenje kolačića.