25.03.2015

Objavljen rad u časopisu Imaging and Microscopy

Na stranicama Imaging and Microscopy (I&M) objavljen je članak OM - SEM/EDS - µFT-IR Synergy -Rapid Palette Identification of Paintings Cross-Sections , Tee Zubin Ferri,  u kojem se opisuju mogućnosti suvremenih tehnika i metoda u analizi kemijskog sastava pigmenata i veziva na vrlo ograničenoj količini uzorka mikroskopskim i mikro-spektroskopskim metodama. Možete ga pročitati ovdje: http://www.imaging-git.com/science/electron-and-ion-microscopy/om-semeds-ft-ir-synergy. Prikazane se tehnike i metode u Centru METRIS primjenjuju niz godina, i to ne isključivo na materijalima kulturnih dobara.

Imaging and Microscopy (I&M) jedinstvena je platforma za izvrsnost u prezentaciji proizvoda i usluga upućena korisnicima i donositeljima odluka u industrijskim i znanstvenim istraživanjima u mikroskopiji. Na temelju konstantnog dijaloga sa znanstvenicima u Europskoj uniji, I&M nudi izvanredni uređivački kontekst u lansiranju novih proizvoda. Teme kao i znanstvena i tehnička izvješća fokusirana su na primjenu u području: kompozicijske analize, elektronske mikroskopije, procesiranju slika, softverskih tehnologija i optičke mikroskopije. (http://www.imaging-git.com/)